硅片缺陷觀測(cè)儀 硅片劃痕崩邊測(cè)定儀 硅片位錯(cuò)層錯(cuò)檢測(cè)儀
型號(hào)JC06-WDI
硅片缺陷觀測(cè)儀于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備,能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果;
硅片缺陷觀測(cè)儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等;
使硅片缺陷觀察工作簡(jiǎn)單化,準(zhǔn)確化,同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度;
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備,能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果;
使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術(shù)*,像素較高, 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富;
傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設(shè)計(jì) ;
有效分辨率為 200 萬(wàn)像素;
所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
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